KLA G200X 納米壓痕儀

KLA G200X 納米壓痕儀產(chǎn)品介紹:
KLA G200X 納米壓痕儀系統(tǒng)是一種準確,靈活,使用方便的納米級機械測試儀器。KLA G200X 納米壓痕儀測量楊氏模量和硬度,包括從納米到毫米的六個數(shù)量級的形變測量。該系統(tǒng)還可以測量聚合物,凝膠和生物組織的復(fù)數(shù)模量以及薄金屬膜的蠕變響應(yīng)(應(yīng)變率靈敏度)。模塊化選項可適用于廣泛應(yīng)用:頻率特定測試,定量刮擦和磨損測試,集成的基于探頭的成像,高溫納米壓痕測試,擴展負載容量達10N和自定義測試。
KLA G200X 納米壓痕儀主要功能:
模塊化設(shè)計,既具有寬泛的測試功能,又可提供高通量的自動化測試功能,并配有統(tǒng)計數(shù)據(jù)分析包,適用于納米力學(xué)性能測量、掃描探針顯微成像、高溫測量和IV電壓電流特性測試。
大量預(yù)編程微納力學(xué)測試方法,簡單易用
荷載范圍從1μN到1N,能夠測試包括軟質(zhì)高聚物和硬質(zhì)材料在內(nèi)的各種材料
NanoBlitz3D力學(xué)譜圖測試功能為用戶提供數(shù)據(jù)可視化和強大的統(tǒng)計數(shù)據(jù)分析處理功能。可升級NanoBlitz4D選項,可用于測量高應(yīng)變率
內(nèi)置劃痕和磨損測試,可以通過膜層界面的斷裂及黏附特性和殘余應(yīng)力等性能的測試,實現(xiàn)對多層界面的性能評估。
納米壓痕專家在線講授專業(yè)納米壓痕課程,而且移動應(yīng)用程序能夠提供測試方法的實時更新
KLA G200X 納米壓痕儀測量原理:
KLA G200X 納米壓痕儀采用特定幾何形狀的金剛石壓頭以載荷準靜態(tài)壓入材料表面,實時記錄加載-卸載過程中的載荷與壓入深度變化,生成?載荷-位移曲線?,通過曲線分析結(jié)合力學(xué)模型,計算材料的納米硬度和彈性模量等參數(shù)。
KLA G200X 納米壓痕儀主要應(yīng)用:
1. 高速硬度和模量測量
2. 界面粘附力測量
3. 斷裂韌性
4. 粘彈特性
5. 掃描探針顯微鏡(3D成像)
6. 耐磨性和耐刮擦性
7. 高溫機械測試
KLA G200X 納米壓痕儀行業(yè)應(yīng)用:
生產(chǎn)質(zhì)量控制 | 金屬和合金 | 半導(dǎo)體 |
醫(yī)療器械 | 高聚物與塑料 | 涂料和油漆 |
MEMS/納米級器件 | 電池和儲能材料 | 陶瓷與玻璃 |
KLAiNano納米壓痕儀技術(shù)優(yōu)勢:
掃描探針顯微成像選項
NanoBlitz3D快速力學(xué)性能分布
NanoBlitz4D力學(xué)性能斷層掃描
連續(xù)剛度測量(CSM)
ProbeDM高聚物測試
AccuFil薄膜方法
劃痕和磨損測試方法
國際標準化的納米壓痕測試
KLA G200X 納米壓痕儀測量圖:

高速硬度和模量測量

高溫機械測試